測(cè)試變壓器絕緣電阻時(shí)影響容差的五個(gè)因素

　影響電阻或電阻率測(cè)試誤差的五個(gè)主要因素，包括：環(huán)境溫度和濕度、測(cè)試電壓（電場(chǎng)強(qiáng)度）、測(cè)試時(shí)間、測(cè)試設(shè)備泄漏和外部干擾。

　　A、環(huán)境溫度和濕度

　　典型材料的電阻值隨著環(huán)境溫度和濕度的增加而降低。相對(duì)而言，表面電阻（率）對(duì)環(huán)境濕度敏感，而體電阻（率）對(duì)溫度敏感。隨著濕度的增加，表面泄漏增加，電導(dǎo)流量增加。當(dāng)溫度升高時(shí)，載流子的運(yùn)動(dòng)速率增加，介電材料的吸收電流和電導(dǎo)率也相應(yīng)增加。據(jù)有關(guān)資料顯示，70℃時(shí)介質(zhì)的電阻在20℃時(shí)僅為10%。因此，在測(cè)量材料的電阻時(shí)，有必要指出樣品與環(huán)境處于平衡狀態(tài)的溫度和濕度。

　　B、測(cè)試電壓（電場(chǎng)強(qiáng)度）

　　介電材料的電阻（倍率）值通常不能在很寬的電壓范圍內(nèi)保持恒定，即不適用歐姆定律。在常溫條件下，在較低的電壓范圍內(nèi)，電導(dǎo)率隨外加電壓的增加呈線(xiàn)性增加，材料的電阻值保持不變。超過(guò)一定電壓后，電離電流增加的速度遠(yuǎn)快于測(cè)試電壓，材料的電阻值迅速下降。可以看出，通過(guò)變壓器繞組電阻測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)試時(shí)，施加的測(cè)試電壓越高，材料的電阻值越低，因此在不同電壓下測(cè)試的材料的電阻值可能會(huì)有很大差異。

　　C、測(cè)試時(shí)間

　　當(dāng)變壓器繞組電阻測(cè)試儀以一定的直流電壓對(duì)被測(cè)材料施加壓力時(shí)，被測(cè)材料上的電流不是瞬間達(dá)到穩(wěn)定值，而是有一個(gè)衰減過(guò)程。加壓時(shí)流過(guò)較大的充電電流，隨后較長(zhǎng)時(shí)間吸收較慢的電流，最后達(dá)到較穩(wěn)定的電流流動(dòng)。測(cè)得的電阻值越高，達(dá)到平衡所需的時(shí)間就越長(zhǎng)。因此，為了在測(cè)量過(guò)程中正確讀取被測(cè)電阻值，應(yīng)在穩(wěn)定后或加壓1分鐘后讀取該值。此外，高絕緣材料的電阻值也與充電歷史有關(guān)。為了準(zhǔn)確評(píng)估材料的靜電性能，對(duì)材料進(jìn)行電阻（率）測(cè)試時(shí)，應(yīng)斷電放置一段時(shí)間。您可以休息5分鐘，然后使用變壓器繞組電阻測(cè)試儀。儀器測(cè)試。一般來(lái)說(shuō)，對(duì)一種材料的檢測(cè)，至少應(yīng)隨機(jī)抽取3～5個(gè)樣品進(jìn)行檢測(cè)，取平均值作為檢測(cè)結(jié)果。

　　D、測(cè)試設(shè)備漏電

　　使用變壓器繞組電阻測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)試時(shí)，線(xiàn)路中絕緣電阻低的接線(xiàn)往往與被測(cè)樣品和采樣電阻并聯(lián)不當(dāng)，可能對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生較大影響。為此：為減小測(cè)量誤差，應(yīng)采用保護(hù)技術(shù)，在漏電流較大的線(xiàn)路上加裝保護(hù)導(dǎo)體，基本消除雜散電流對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響；由于高壓線(xiàn)表面因表面電離存在一定的對(duì)地漏電現(xiàn)象，所以建議盡量采用絕緣高、線(xiàn)徑大的高壓線(xiàn)作為高壓輸出線(xiàn)，并縮短連接以最小化前端并消除電暈放電。測(cè)試臺(tái)和支架由絕緣材料制成，例如聚乙烯，以避免由于這些原因?qū)е聹y(cè)試值低。

　　E、外部干擾高絕緣材料施加直流電壓后，通過(guò)樣品的電流很小，極易受到外部干擾，導(dǎo)致測(cè)試誤差很大。熱電勢(shì)和接觸電勢(shì)一般較小，可以忽略不計(jì)；電解電位主要是濕樣與不同金屬接觸引起的，只有20mV左右。此外，靜態(tài)測(cè)試時(shí)要求相對(duì)濕度較低。在干燥環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試時(shí)消除電解電位。因此，使用變壓器繞組電阻測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)試時(shí)，外界干擾主要是雜散電流的耦合或靜電感應(yīng)產(chǎn)生的電位。當(dāng)測(cè)試電流小于100pA或被測(cè)電阻超過(guò)100G歐姆時(shí)；被測(cè)樣品、測(cè)試電極和測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)采取嚴(yán)格的屏蔽措施，以消除外界干擾的影響。